四探針測(cè)試儀探頭
產(chǎn)品時(shí)間:2024-11-07
簡(jiǎn)要描述:
FT/HP系列四探針測(cè)試儀探頭采用綜合性能優(yōu)異的航空工程塑料、機(jī)械結(jié)構(gòu)優(yōu)良彈huang片、耐磨和硬度高的探針研制的測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠、準(zhǔn)確度高、耐用性能好四探針探頭。所有技術(shù)指標(biāo)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),同時(shí)符合ASTM標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)規(guī)定;可安裝于探針測(cè)試臺(tái)也可手持探頭對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試,如對(duì)樣品手持探頭測(cè)試可搭配PH-Ⅱ型把手有效提高測(cè)試效率,此測(cè)試方式廣泛應(yīng)用于硅多晶料、頭尾料、鍋底料的電阻率分揀;
FT/HP系列四探針測(cè)試儀探頭
FT/HP系列四探針測(cè)試儀探頭
FT系列四探針探頭
FT系列四探針探頭是采用綜合性能優(yōu)異的航空工程塑料、機(jī)械結(jié)構(gòu)優(yōu)良彈huang片、耐磨和硬度高的探針研制的測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠、準(zhǔn)確度高、耐用性能好四探針探頭。所有技術(shù)指標(biāo)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),同時(shí)符合ASTM標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)規(guī)定;
FT系列四探針探頭可安裝于探針測(cè)試臺(tái)也可手持探頭對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試,如對(duì)樣品手持探頭測(cè)試可搭配PH-Ⅱ型把手有效提高測(cè)試效率,此測(cè)試方式廣泛應(yīng)用于硅多晶料、頭尾料、鍋底料的電阻率分揀;與原有的TZT(9A、9B、9C、9D)系列四探針探頭可替換使用
由于采用了綜合性能優(yōu)異的航空工程塑料四探針探頭有如下特點(diǎn):
①尺寸穩(wěn)定性好,成型收縮率小于0.3%,線膨漲系數(shù)小于3x10-6;
②機(jī)械性能優(yōu)異,抗張強(qiáng)度高于120MPa,彎曲強(qiáng)度大于150MPa,彎曲模量大于12GPa;
③電性能優(yōu)異,介電強(qiáng)度大于17kv/mm,介電系數(shù)小于4,體積電阻率在1016數(shù)量級(jí);
④耐腐蝕,除氧化性介質(zhì)外,可以耐幾乎所有的無(wú)機(jī)物質(zhì)腐蝕;在200℃下,不溶于已知的所有機(jī)溶劑;
⑤低吸濕,在23℃水中經(jīng)24小時(shí)浸泡后吸水率小于0.05%;
⑥阻燃性好,其氧指數(shù)大于40,為UV—94V—00/5—V級(jí);
⑦耐高溫,長(zhǎng)期使用溫度180℃;
技術(shù)參數(shù)
①探針間距:1±0.010mm;
②探針材料:高速鋼或碳化鎢;
③探針壓力:5~8牛頓或12~16牛頓;
④探針機(jī)械游移率:小于0.3%;
⑤探針伸出的長(zhǎng)度:3mm;
⑥針尖錐體夾角:60°;
⑦針間絕緣電阻:大于109Ω;
HP系列四探針探頭
HP系列四探針探頭是一種專門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的四探針測(cè)試探頭,可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
特性及規(guī)格:
特制之手握式探筆
球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷
探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測(cè)試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
探頭使用壽命長(zhǎng)
探針間距:1mmm、1.59mm、3.8m;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ